#E840. 【基础】芯片测试

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【基础】芯片测试

说明

     有n2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
    
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
    
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

     输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
    
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为01,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3

提示

【来源】蓝桥杯基础训练